Artec 3D社が光学座標測定システムの「Metrology Kit」を発表
2022年10月12日
Artec 3D社 2022年10月4日
Artec 3D社は2022年10月4日、高精度検査のための新しい3D光学座標測定システムとなる「Artec Metrology Kit」を発表した。Metrology Kitは、変形解析を用いてあらゆるサイズのオブジェクトとエリアをより正確に測定できるソリューション。またDaaKSおよびVDIの認定を受けており、最大0.002 mm + 0.005 mm / mのポイントベース精度と最大0.015 mm + 0.015 mm / mの長さ測定精度を達成している。そして最大解像度30.3メガピクセル、28mm広角レンズを備えたカメラ、測定ターゲット、アダプター、スケールバーなどのプラグインが含まれており、Geomagic Control X、PolyWorksなど、業界をリードする検査ソフトウェアソリューションとの互換性も備わっている。