Siemens Digital Industries Software社がテスト容易化設計ソリューション「Tessent In-System Test」ソフトウェアを発表
2024年11月13日
Siemens Digital Industries Software社 2024年11月5日
Siemens Digital Industries Software社は2024年11月5日、次世代集積回路（IC）のインシステムテスト機能を強化する画期的なテスト容易化設計（DFT）ソリューションである「Tessent In-System Test」ソフトウェアを発表した。無兆候データ破損につながる経年劣化や環境要因などの課題に対処するために開発されたTessent In-System Testは、同社が開発したスキャンテストパターンのパケット化伝送システムであるTessent Streaming Scan Networkと連携するように設計されており、シリコンのライフサイクル全体を通じてEDTテストパターンをシステムに適用できることから、ICやその搭載先の信頼性、安全性、機能の完全性を維持するのに役立つ製品となっている。