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光学トラッキング式3Dスキャンシステム
TRACKSCAN-Sharpは、ハンディー型3Dスキャナーと光学式トラッカーで構成され、大型部品の測定に適した革新的な光学トラッキング式3Dスキャンシステムです。最大6mのトラッキング距離、49平方メートルの空間測定範囲、最大0.049mm（10.4平方メートル）の空間測定精度によって、光学測定を新しいレベルに引き上げます。
さまざまな産業用途に対応するため、有線および無線でのデータ転送をサポートし、スキャンをさらに簡単にします。また、補助光モジュールと連動することで、穴の形状を検査することもできます。
超高画素による精巧なディテール
TRACKSCAN-Sharpは、最新の産業用カメラを搭載しています。カメラは前世代の5倍である2500万画素を実現。ダイナミックアダプティブLEDアルゴリズム、長距離被写界深度、強力な干渉防止能力により、6mの範囲の鮮明な画像を自動的に取得できます。
非常に大きなスキャン空間
広いスキャン空間と堅牢なエッジ測定アルゴリズムにより、大型部品も1回でスキャンすることができます。トラッカーを頻繁に移動させずに大型部品をスキャンできるので、効率的でスムーズかつ正確な測定が可能です。
高速3Dスキャンと新しいデータ伝送
光学式トラッキング技術によって、ターゲットマーカーを貼り付けずに、部品を正確に測定できます。トラッキング可能な体積が大きいため、複数の部品を同時に測定でき、作業効率が大幅に向上します。
驚異的な精度
強力なハードウェアとソフトウェアを搭載することで、計測学レベルの高精度な測定を可能にしました。この光学トラッキング式3Dスキャンシステムは、高い計測学的要求を満たすことを保証します。約200％大きくなったスキャン空間によって、精度を損なわずに大型部品を測定できます。
エッジ検出機能
エッジ検出モジュール「i-Hole（オプション）」を取り付けることで、高精度のグレー値測定で影のないエッジ検出します。閉じた形状、特にネジ穴を正確に検査できます。位置や直径を正確に再現でき、常に優れた測定結果を提供します。
T-Probe
ポータブル式のプローブ「CMM T-Probe（オプション）」と組み合わせて使用することで、深い穴や隠れた箇所など手の届かない場所の測定が可能になります。この接触型の測定プローブは、最大0.025mmのシングルポイント繰り返し精度を実現します。
| スキャンモード | 高速スキャン |
|---|---|
| スキャンモード 最大精度（注1） | 高解像度スキャン：21本クロスブルーレーザー ディープホールスキャン：7本平行ブルーレーザー 0.025mm：1本ブルーレーザー |
| 最大スキャン速度 | 2,600,000点／秒 |
| 最大スキャン幅（ワンショット） | 500×600mm |
| レーザーレベル | Class 2M |
| 最大解像度 | 0.020mm |
| 体積精度（注2） | 10.4m3（トラッキング距離3.5m） |
| 体積精度（注2） 体積精度（MSCAN写真測量システム使用時） | 28.6m3（トラッキング距離5.0m）：0.049mm 49.0m3（トラッキング距離6.0m）：0.067mm 0.044mm＋0.012mm / m：0.089mm |
| 穴ピッチ精度 | 0.050mm |
| 焦点距離 | 300mm |
| 被写界深度 | 400mm |
| 出力形式 | .stl、.ply、.obj、.igs、wrl、.xyz、.dae、.fbx、.ma、.ascなど |
| 動作温度範囲 | 0～45℃ |
| 動作湿度範囲（結露なし） | 10～90% RH |
| インターフェイス | USB 3.0 |
| 推奨PCスペック | OS：Windows 11、Windows 10 CPU：i9 16コア / 24スレッド以上 RAM：64GB以上 GPU：NVIDIA RTX 3050（8GB）以上（AMD社GPUは対応していません） |
| ソフトウェア | Tviewer |
| 認定 | CE、RoHS、WEEE |